顶点光电子商城2024年9月18日消息： 近日，盖泽华矽半导体科技（上海）有限公司（盖泽半导体）成功交付两台自主研发的FTIR（傅里叶变换红外光谱）膜厚量测设备GS-M08X给两家客户，这一消息标志着公司在半导体测试设备领域取得了重要的技术突破和市场认可。

           FTIR技术作为一种非接触、非破坏性的测量方法，在半导体行业中广泛应用于薄膜材料的厚度测量，如光刻胶、氧化物、氮化物等关键层的精确测量。GS-M08X设备的成功研发与交付，不仅体现了盖泽半导体在红外光谱技术应用于半导体测试领域的深厚积累，也展示了其创新能力和满足市场需求的能力。

         对于接收设备的两家客户而言，这意味着他们能够获得更加精确、高效的膜厚测量解决方案，有助于提升产品质量、优化生产工艺流程，进而增强市场竞争力。同时，这也为盖泽半导体赢得了良好的市场口碑，为其后续拓展更多客户和市场份额奠定了坚实基础。

          此外，GS-M08X设备的成功交付还预示着盖泽半导体在半导体测试设备领域的持续发展和壮大。随着半导体行业的快速发展和技术的不断进步，对测试设备的需求也在不断增加。盖泽半导体将继续加大研发投入，不断推出更多具有自主知识产权的高性能测试设备，为半导体行业的发展贡献更多力量。

           总之，盖泽半导体GS-M08X设备的成功交付是公司在半导体测试设备领域取得的重要成果之一，也是公司技术实力和市场竞争力的重要体现。未来，盖泽半导体将继续秉承创新、务实、高效的发展理念，为半导体行业的繁荣发展贡献更多智慧和力量。