顶点光电子商城2024年12月4日消息：近日，长光辰芯（Gpixel）宣布推出两款高速、高灵敏度背照式 TDI CMOS 图像传感器：GLT5008BSI 和 GLT5016BSI。

         此两款产品采用更优化的设计，具有更高的行频、更高量子效率，更好的片上集成度，更加匹配半导体晶圆检测、FPD 检测、高通量基因测序、生物荧光成像等行业的应用需求。

在分辨率方面，GLT5008BSI水平方向有效分辨率为8208像素。GLT5016BSI水平方向有效分辨率为16416像素，是16K级别的背照式CMOS TDI图像传感器。

        在灵敏度方面，两者均采用背照式工艺，提高了量子效率。峰值量子效率高，尤其在特定波长下表现出色（如440nm处可达92.4%以上）。

       在性能方面，GLT5008BSI最高行频可达1MHz（部分配置下为500kHz）。GLT5016BSI最高行频可达500kHz。

        在数据输出方面，GLT5008BSI最高输出数据率为86.4Gbps。GLT5016BSI最高输出数据率为103.7Gbps。

        在集成度方面，两款传感器均集成了时序控制模块和电源管理模块。支持通道合并、可选扫描方向等功能。

       在低功耗与散热方面，GLT5016BSI在最高行频下功耗小于6.4W。采用415引脚的μPGA陶瓷封装，确保高可靠性和良好的散热性能。

        在技术亮点方面，背照式工艺提高了量子效率，使得传感器在弱光环境下也能表现出色。时延积分（TDI）技术能够在捕捉快速运动或瞬时变化的图像时，显著提升图像质量。高数据输出率与100GiGE相机接口使得传感器能够轻松应对大数据量的处理需求，为系统集成提供了便利。

       长光辰芯还提供不同谱段的ARC（抗反射涂层）定制服务，以满足更多样化的应用需求。这为用户提供了更多的选择和灵活性。

         总之，长光辰芯发布的这两款高速、高灵敏度背照式CMOS TDI图像传感器在多个技术指标上都显示出了独特的竞争优势，为基因测序、半导体检测、屏幕检测等领域带来了更加准确、简单、高效的解决方案。